本申請公開了一種存儲陣列的性能檢測方法，包括：獲取目標存儲陣列的陣列數據和用戶輸入的測試參數；利用所述陣列數據和所述測試參數確定所述目標存儲陣列的基礎性能；通過預設參數對所述基礎性能進行調整得到所述目標存儲陣列的實際性能；其中，所述預設參數包括讀寫比例、緩存命中率、產品型號中的任一項或任幾項的組合。本申請能夠提高檢測存儲陣列性能的準確率。本申請還公開了一種存儲陣列的性能檢測系統(tǒng)、一種存儲介質及一種電子設備，具有以上有益效果。