本實用新型公開了一種霍爾集成電路性能檢測裝置，涉及霍爾集成電路性能檢測技術(shù)領(lǐng)域，包括底座，底座頂部前側(cè)固定連接有治具，底座頂部后側(cè)固定連接有直角彎板，直角彎板上設(shè)有升降組件，所述升降組件底端固定連接有移動組件，所述移動組件上固定連接有檢測針，所述治具內(nèi)部通過緩沖機構(gòu)連接有霍爾集成電路，所述緩沖機構(gòu)包括限位組件、彈簧組件和安裝組件，所述限位組件固定連接在治具內(nèi)部，所述安裝組件通過彈簧組件連接在限位組件上，所述安裝組件與彈簧組件均位于治具內(nèi)部，相對于現(xiàn)有技術(shù)，本實用新型可有效對霍爾集成電路受到的過度擠壓力進行緩沖，即可有效對霍爾集成電路進行防護，避免霍爾集成電路被壓損，從而避免經(jīng)濟損失。