本實用新型公開了高密度存儲一體化芯片性能檢測設備，包括檢測設備主體，所述檢測設備主體的上端外表面設置有外殼罩，所述外殼罩的上端外表面設置有頂蓋和絞座，所述絞座的一側(cè)外表面設置有扣件。通過在檢測設備主體的上端外表面設置外殼罩，在外殼罩的上端外表面設置頂蓋，頂蓋的上端而表面設置有卡件，有利于檢測設備處于較為密閉的環(huán)境，使檢測的數(shù)據(jù)更加精確，通過在一號載盤的下端外表面設置電動伸縮桿、滑板和一號滑軌，一號載盤的上端外表面設置吸盤和滑桿等部件，有利于使用者將芯片從頂蓋處放在一號載盤上，之后一號載盤帶著芯片來到吸盤下方，吸盤再將芯片吸至檢測儀器處的二號載盤上，有利于實現(xiàn)自動上料。