本實(shí)用新型公開了一種用于單光子發(fā)射斷層掃描系統(tǒng)的性能檢測的雙線源模(10),其特征在于包括:第一夾板(11);第二夾板(12),與所述第一夾板(11)具有對稱的結(jié)構(gòu)并與其相對設(shè)置;和雙線源(13),設(shè)置在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)之間,其中在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)的相對表面上的相應(yīng)位置處分別設(shè)置有形狀相同的細(xì)長凹槽(14),所述雙線源(13)設(shè)置在所述細(xì)長凹槽(14)中。
聲明:
“用于單光子發(fā)射斷層掃描系統(tǒng)的性能檢測的雙線源?!?該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)