本發(fā)明公開了一種集成電路封裝芯片的分類裝置，包括收集口，其特征在于：所述收集口的末端安裝有性能檢測裝置，所述性能檢測裝置的內部安裝有檢測傳送帶，所述檢測傳送帶的表面安裝有彈性電磁鐵，所述彈性電磁鐵的一側電連接有性能檢測電腦，檢測傳送帶的一側安裝有遺漏回收管，所述遺漏回收管的前端安裝有氣動發(fā)射閥，所述氣動發(fā)射閥的另一側連接有回收軟管，所述回收軟管的另一側與收集口相連，分類傳送帶的上方依次安裝有收集傳送帶，所述收集傳送帶的表面安裝有彈性電磁鐵，所述收集傳送帶的一側安裝有引腳感應組，所述收集傳送帶的下方設置有分類儲存箱，本發(fā)明，具有實用性強和可以將芯片密封保存的特點。