本發(fā)明公開了一種eMMC質量檢測修復方法、裝置及存儲介質，其中該方法包括：讀取eMMC芯片的協(xié)議版本信息及生產(chǎn)日期，非失真寄存器及只讀信息，獲取所述eMMC芯片的第一質量狀態(tài)；讀取所述eMMC芯片的數(shù)據(jù)存儲區(qū)，判斷是否全為默認值，提取分區(qū)特征，獲取所述eMMC芯片的第二質量狀態(tài)；對所述eMMC芯片進行讀取擦除性能檢測，獲取所述eMMC芯片的第三質量狀態(tài)；根據(jù)第一質量狀態(tài)、第二質量狀態(tài)及第三質量狀態(tài)生成所述eMMC芯片的質量評估結果；根據(jù)所述質量評估結果，對所述非失真寄存器開啟的功能進行關閉，通過擦除命令修復數(shù)據(jù)存儲區(qū)，并對讀寫性能進行修復。簡要描述技術效果。本發(fā)明通過多種方式檢測，檢測修復的覆蓋面廣，準確率高，貼近用戶實際使用需求。