本發(fā)明公開了電子元件測(cè)試裝置,其不僅可以檢測(cè)電子元件的尺寸,而且,可以快速的對(duì)電子元件的電性能進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)自動(dòng)化程度高,檢測(cè)可靠,本發(fā)明采用多工位的方式進(jìn)行檢測(cè),有效降低了檢測(cè)勞動(dòng)強(qiáng)度,多工位轉(zhuǎn)動(dòng)盤組件旁可以配設(shè)上料與下料的機(jī)械手,實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化檢測(cè),本發(fā)明在檢測(cè)時(shí),當(dāng)上料機(jī)械手上料后,頂緊組件先對(duì)電子元件頂緊定位在定位槽的基準(zhǔn)面上,然后,真空吸附組件對(duì)電子元件件吸附固定,當(dāng)電子元件轉(zhuǎn)動(dòng)至尺寸檢測(cè)工位時(shí),利用光束對(duì)其進(jìn)行檢測(cè),光束接收器根據(jù)接收到的光可以判斷出電子元件的輪廓,其尺寸可計(jì)算出,判斷是否合格,如合格的話,利用電性能檢測(cè)組件對(duì)其進(jìn)行電性能測(cè)試即可,不合格產(chǎn)品可由機(jī)械手取出。
聲明:
“電子元件測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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