本發(fā)明公開一種多SITE LCD驅(qū)動芯片檢測方法，所述上位機發(fā)送檢測指令，載入LCD驅(qū)動命令信息，驅(qū)動LCD驅(qū)動芯片管腳輸出波形；所述主控板解析上位機傳輸?shù)目刂菩畔ⅲ峙螌Χ嗦稬CD驅(qū)動芯引腳進(jìn)行模擬量信號采集，模數(shù)轉(zhuǎn)換后將數(shù)據(jù)存入內(nèi)存單元；然后將數(shù)據(jù)從內(nèi)存單元讀出，通過算法判定，核對每路波形BIAS與上位機設(shè)定值的一致性，將結(jié)果上傳至上位機，判定芯片是否檢測成功。本發(fā)明還公開一種多SITE LCD驅(qū)動芯片檢測裝置，本發(fā)明可同時控制多SITE LCD驅(qū)動芯片進(jìn)行全性能檢測，使用方便，效率高。