本發(fā)明公開了一種雙光束光電化學測試裝置，包括電解體系、第一光源、第二光源、數(shù)據(jù)采集裝置以及計算機，電解體系包括光學斬波器、電解池、工作電極、參比電極、輔助電極、恒電位儀，參比電極、輔助電極和工作電極設置于電解池內，工作電極位于電解池的底部，輔助電極、工作電極、參比電極分別與恒電位儀電性連接，電解池的底壁為透光壁，光學斬波器置于電解池與第二光源之間，第一光源的朝上照射工作電極的下表面，第二光源朝下照射工作電極的上表面。通過不同周期和不同波長的兩束光對電解池內的光電極的上下兩面同時進行周期性地照射，可提高對不同光電極性能檢測的準確性。本發(fā)明可應用于研究光電化學體系中的反應機理和光催化劑的性能。