本發(fā)明公開了一種AR頭戴設(shè)備測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法,通過工業(yè)相機(jī)完成高精度檢測(cè),實(shí)現(xiàn)了AR頭戴設(shè)備的亮度、視場(chǎng)角、清晰度、色彩、畸變等性能的定量測(cè)量、實(shí)現(xiàn)異物量化檢測(cè)功能、實(shí)現(xiàn)外觀缺陷檢測(cè)功能,并且滿足量產(chǎn)檢測(cè)需求,快速完成所有測(cè)試指標(biāo)拍攝、計(jì)算、寫入、上傳全流程,通過優(yōu)化算法測(cè)試流程,兼顧精度和效率平衡,測(cè)量高效、成本低,比起國(guó)外專業(yè)設(shè)備,具有極低測(cè)試成本和更快的測(cè)試速度。本發(fā)明解決了現(xiàn)有的光機(jī)模組或頭戴顯示裝置整機(jī)產(chǎn)品性能檢測(cè)設(shè)備多用于實(shí)驗(yàn)室階段的精細(xì)標(biāo)定而無(wú)法用于量產(chǎn)檢測(cè)的問題。
聲明:
“AR頭戴設(shè)備測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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