本申請屬于光學遙感器系統(tǒng)性能檢測技術(shù)領域，特別涉及一種用于光學系統(tǒng)豎直狀態(tài)系統(tǒng)波像差測試的立式檢測系統(tǒng)，包括：桁架主體、二維平移調(diào)整臺、平面反射鏡組件，所述桁架主體用于承載二維平移調(diào)整臺和所述平面反射鏡組件；所述二維平移調(diào)整臺安裝在所述桁架主體的上端，所述平面反射鏡組件安裝在所述二維平移調(diào)整臺上，所述平面反射鏡組件用于反射光學系統(tǒng)射出的平行光，所述二維平移調(diào)整臺帶動所述平面反射鏡實現(xiàn)二維平移運動。實現(xiàn)了大口徑光學系統(tǒng)豎直狀態(tài)的光路自準直，檢測多個子孔徑的系統(tǒng)波像差，繼而拼接獲取全口徑的系統(tǒng)波像差，完成光學系統(tǒng)豎直極限工況下的系統(tǒng)像質(zhì)測試，有效解決了以往只能用仿真實現(xiàn)驗證的問題。