本發(fā)明涉及薄膜物理性能檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種薄膜熱收縮率的測量方法及測量裝置。該測量方法包括：加熱前，測量薄膜樣品的長度為薄膜初始長度L1；將該薄膜樣品置于加熱設(shè)備中加熱；將該薄膜樣品從加熱設(shè)備中取出、冷卻，拉伸該薄膜樣品使其處于張緊狀態(tài)，記錄此時(shí)該薄膜樣品的長度為薄膜變形后長度L2，根據(jù)所述薄膜初始長度L1、薄膜變形后長度L2、結(jié)合收縮率的計(jì)算公式計(jì)算出薄膜的熱收縮率。該測量方法用于解決薄膜加熱變形后的長度測量不準(zhǔn)確的問題。