本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例公開了一種表貼晶振的可靠性篩選方法，包括：對(duì)表貼晶振進(jìn)行電性能篩選測(cè)試，獲取初始測(cè)試數(shù)據(jù)；對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行力學(xué)篩選測(cè)試；對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行熱學(xué)篩選測(cè)試；對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行常溫電性能參數(shù)終測(cè)篩選測(cè)試；對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行高低溫測(cè)試篩選測(cè)試；對(duì)表貼晶振進(jìn)行外觀檢查非破壞性篩選測(cè)試；根據(jù)上述篩選測(cè)試結(jié)果與初始測(cè)試數(shù)據(jù)的比對(duì)結(jié)果，篩選出符合要求的表貼晶振。