本發(fā)明公開(kāi)了一種電子元件移動(dòng)測(cè)試裝置及其方法，包括機(jī)架，所述機(jī)架內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)安裝有兩根輸送軸，兩根所述輸送軸外側(cè)連接有輸送帶；所述輸送帶表面均勻設(shè)置有放置臺(tái)，所述放置臺(tái)內(nèi)部設(shè)置有固定板，所述固定板底面連接有彈性組件，所述彈性組件的上端連接有升降板，所述彈性組件底端連接有固定楔塊；所述機(jī)架表面均勻設(shè)置有多個(gè)承載立板，所述承載立板外側(cè)連接有頂料電缸、連接電缸和推料電缸，所述頂料電缸的輸出端連接有活動(dòng)楔塊，所述連接電缸的輸出端連接有連接插頭。有益效果在于：能夠依次對(duì)電子元件進(jìn)行多項(xiàng)性能的自動(dòng)測(cè)試，測(cè)試效率高；測(cè)試過(guò)程中無(wú)需多次取放電子元件，電子元件位置固定不變，能夠保證電子元件的測(cè)試準(zhǔn)確性。