本發(fā)明涉及一種剛玉粉末的粉末壓片XRFS分析方法。其技術(shù)方案是:在剛玉粉末中加入實(shí)驗(yàn)室三級(jí)用水,攪拌,沉降;按沉降層面分三次取出,分別過濾和干燥,得到不同粒級(jí)的上、中和下層粉末,用壓片法分別制得XRFS分析用樣片,再依次用XRFS儀測量,得到各層粉分析樣片中待測組分的顯示含量;然后將與三層粉同粒級(jí)的校正樣品分別用壓片法制得XRFS三層粉校正樣片,測量三層粉校正樣片中待測組分的顯示含量,用濕法化學(xué)分析測得的相應(yīng)的校正值計(jì)算校正系數(shù);然后計(jì)算得到三層粉分析樣片中待測組分的實(shí)際含量,進(jìn)一步得到所述剛玉粉末已測組分的實(shí)際含量。本發(fā)明具有操作簡單、成本低、廢棄物少和樣品污染小的特點(diǎn)。
聲明:
“剛玉粉末的粉末壓片XRFS分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)