本發(fā)明公開了一種輕燒鎂、鎂石中MgO、SiO2含量的X射線熒光光譜分析法，具體包括以下步驟：1.建立標準曲線以及制備標準試樣；2.確定分析試樣粒度；3.將分析試樣置于烘箱中干燥；4.稱取1g分析試樣于馬弗爐灼燒；5.將灼燒后分析試樣轉移至盛有混合熔劑的鉑金坩堝中，攪拌均勻，在表面覆蓋混合熔劑,滴加脫模劑；6.然后將分析試樣放入Claisse M4型熔樣爐中進行熔融；本發(fā)明節(jié)約了分析時間；樣品的分析結果滿足相關國家化學分析標準中的精密度要求。