公開了用于基底的非原位分析的系統(tǒng)和方法。本發(fā)明披露了一種用于制作供在非原位TEM、SEM、或STEM程序中使用的不對(duì)稱薄層的方法和系統(tǒng)。薄層的形狀提供用于容易定向,從而使得可以在化學(xué)分析的TEM、SEM、或STEM程序中來自碳膜最少的光學(xué)和光譜干擾的條件下將該薄層內(nèi)的相關(guān)區(qū)放置在碳膜內(nèi)的孔上。
聲明:
“用于基底的非原位分析的系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)