多變量解析運算部(43)分別將由PDA檢測器(2)獲取到的數(shù)據(jù)中的特定波長rλ1下的色譜數(shù)據(jù)與由質(zhì)譜儀(3)重復(fù)獲取到的質(zhì)譜數(shù)據(jù)進(jìn)行矩陣化。然后,以基于質(zhì)譜數(shù)據(jù)的二維矩陣為解釋變量并以基于色譜數(shù)據(jù)的一維矩陣為被解釋變量,來執(zhí)行PLS的運算,從而算出回歸系數(shù)矩陣。針對每個m/z值得到回歸系數(shù),回歸系數(shù)大的m/z值表示特定波長下的色譜波形與提取離子色譜(XIC)類似的m/z值。因此,m/z值提取部(44)將回歸系數(shù)與閾值進(jìn)行比較來提取有意義的m/z值,XIC制作部(46)制作所提取出的m/z值下的XIC。通過事先指定操作員關(guān)注的部分化學(xué)結(jié)構(gòu)特異性地吸收的波長λ1,不進(jìn)行基于操作員手動作業(yè)的波形處理,就能夠得到與包含該部分化學(xué)結(jié)構(gòu)的分子種對應(yīng)的XIC。
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“色譜質(zhì)譜分析用數(shù)據(jù)解析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)