本公開提供了一種全自動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)和方法。該全自動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)包括：第一檢測(cè)裝置，所述第一檢測(cè)裝置用于對(duì)待檢測(cè)物體進(jìn)行物理掃描；第二檢測(cè)裝置，所述第二檢測(cè)裝置設(shè)置在所述第一檢測(cè)裝置的上游或下游，用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行化學(xué)檢測(cè)；以及輸送裝置，用于將所述待檢測(cè)物體輸送至第一檢測(cè)裝置和第二檢測(cè)裝置。所述第二檢測(cè)裝置包括柔性采樣機(jī)構(gòu)，所述柔性采樣機(jī)構(gòu)包括：第一柔性采樣機(jī)構(gòu)，用于采集所述待檢測(cè)物體上的微粒樣本；和第二柔性采樣機(jī)構(gòu)，用于采集所述待檢測(cè)物體上的氣體樣本。本公開的全自動(dòng)探測(cè)系統(tǒng)和方法具有檢測(cè)精度高、檢測(cè)速度快、操作簡(jiǎn)單且可自動(dòng)完成的優(yōu)點(diǎn)。