本實(shí)用新型的腐蝕速度測(cè)量?jī)x屬于測(cè)量測(cè)試儀器，包括MCU主控單元、恒電位單元和三電極傳感器，所述的三電極傳感器聯(lián)接至恒電位單元，恒電位單元聯(lián)接至直流信號(hào)測(cè)量單元和交流信號(hào)測(cè)量單元，直流信號(hào)測(cè)量單元和交流信號(hào)測(cè)量單元均聯(lián)接至MCU主控單元，MCU主控單元分別聯(lián)接至直流施加單元和交流施加單元，MCU主控單元、直流施加單元和交流施加單元均聯(lián)接至恒電位單元。本儀器運(yùn)用交流阻抗技術(shù)，對(duì)腐蝕體系施加高頻正弦信號(hào)，高頻信號(hào)可穿過(guò)金屬和腐蝕介質(zhì)之間所形成的電化學(xué)雙電層電容，使得施加的高頻信號(hào)全部作用在介質(zhì)電阻上，由此可準(zhǔn)確的測(cè)得腐蝕體系的介質(zhì)電阻Rs。從線性極化所測(cè)得的極化電阻中減掉介質(zhì)電阻得到實(shí)際的極化電阻值，從而準(zhǔn)確的獲得腐蝕速率。