本實(shí)用新型公開了一種用于測試晶體硅體少子壽命的硅片鈍化裝置，包括塑料袋結(jié)構(gòu)，所述塑料袋結(jié)構(gòu)包括用于在其內(nèi)部放置硅片的具有防腐蝕性的塑料袋，所述塑料袋的頂端為用于裝入或取出所述硅片的開口端，所述開口端設(shè)置有能夠?qū)⑺鲩_口端密封的封口邊，所述塑料袋的底端設(shè)置有連通所述塑料袋的內(nèi)部的抽注管，所述抽注管的底部設(shè)置有密封塞；該硅片鈍化裝置能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中的化學(xué)鈍化法產(chǎn)生的尋邊困難、容易損害儀器、有污染、測試后處理不便、無法控制鈍化液體積的問題。