一種低溫顯微與差式掃描量熱復(fù)合測(cè)試系統(tǒng),它包括有倒置式光學(xué)顯微鏡,低溫顯微與差式掃描量熱復(fù)合裝置,冷量供給設(shè)備,計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、溫度控制器和攝錄像系統(tǒng);其特點(diǎn)是:低溫顯微與差式掃描量熱復(fù)合裝置位于有機(jī)玻璃罩內(nèi),并用螺釘固定在顯微鏡樣品臺(tái)支架上;有機(jī)玻璃罩頂部連接有顯微鏡聚光器,底部連接有物鏡,物鏡與顯微鏡物鏡座連接,顯微鏡物鏡座和顯微鏡立柱均連接在顯微鏡底座上;低溫顯微與差式掃描量熱復(fù)合裝置內(nèi)的加熱器和溫度傳感器與溫度控制器連接,溫度控制器依次與計(jì)算機(jī)連接;物鏡與照相機(jī)、攝像機(jī)、電視顯示器連接。本實(shí)用新型可同時(shí)獲得升、降溫過(guò)程中樣品的顯微圖像和各種物理化學(xué)參數(shù),測(cè)試結(jié)果更精確。
聲明:
“低溫顯微與差式掃描量熱復(fù)合測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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