本發(fā)明公開了一種絕緣子試片沿面閃絡(luò)實驗方法,試片包括對照試片和實驗試片,試片的結(jié)構(gòu)相同,實驗試片的數(shù)量為兩個以上,實驗方法的具體步驟為:步驟a:將實驗試片分別浸沒于各自的化學(xué)清洗劑中,各個實驗試片的浸沒時間逐漸增加;步驟b:配制人工污穢并利用人工污穢對試片進(jìn)行涂污,涂污后,各個試片的鹽密相等,各個試片的灰密相等;步驟c:利用測試裝置得到并記錄各個試片的閃絡(luò)電壓和試片發(fā)生閃絡(luò)時的泄漏電流。和現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供的絕緣子試片沿面閃絡(luò)實驗方法可以簡化操作且實驗精度較高。
聲明:
“絕緣子試片沿面閃絡(luò)實驗方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)