本發(fā)明公開了一種熔鹽體系中離子遷移數(shù)獲取方法、系統(tǒng)、終端及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：針對待評(píng)估的熔鹽體系構(gòu)建其周期性結(jié)構(gòu)模型，再進(jìn)行分子動(dòng)力學(xué)模擬得到穩(wěn)定狀態(tài)下離子運(yùn)動(dòng)軌跡和穩(wěn)定離子結(jié)構(gòu)；再計(jì)算出各個(gè)離子的位移矩陣和Mulliken電荷分布；基于離子電導(dǎo)率計(jì)算理論以及引入各離子對的相關(guān)性系數(shù)，并利用各個(gè)離子的位移矩陣和Mulliken電荷分布得到所述熔鹽體系中的離子遷移數(shù)；其中，利用相關(guān)性系數(shù)修正各個(gè)離子的離子電導(dǎo)率。本發(fā)明該方法引入離子對的相關(guān)性系數(shù)，得到的離子遷移數(shù)更為準(zhǔn)確，且利用分子動(dòng)力學(xué)模擬來計(jì)算熔鹽體系中離子遷移數(shù)，無需設(shè)計(jì)特定的熔鹽測量儀器以及高溫電化學(xué)實(shí)驗(yàn)，可以減少實(shí)驗(yàn)成本。