本發(fā)明公開(kāi)了一種利用光學(xué)干涉法來(lái)測(cè)量反射光強(qiáng)的光譜吸收法來(lái)無(wú)損檢測(cè)物質(zhì)濃度的方法及裝置。應(yīng)用光學(xué)干涉法探測(cè)光線射入物質(zhì)載體后的反射信號(hào),通過(guò)分析不同波長(zhǎng)下光線經(jīng)被測(cè)物質(zhì)及其載體吸收后信號(hào)的變化來(lái)間接檢測(cè)該物質(zhì)的濃度,最終達(dá)到無(wú)損監(jiān)測(cè)的目的。實(shí)現(xiàn)該檢測(cè)方法的裝置采用多個(gè)不同波長(zhǎng)的寬帶光源、麥克爾遜干涉儀、光探測(cè)器和信號(hào)處理及計(jì)算裝置。本發(fā)明具有無(wú)損、簡(jiǎn)便以及高靈敏度的特點(diǎn)。
聲明:
“物質(zhì)濃度的無(wú)損光學(xué)檢測(cè)方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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