本發(fā)明涉及鑄鐵件內(nèi)部缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域,且公開了一種用于無損檢測鑄鐵件內(nèi)部缺陷的檢測設(shè)備,包括檢測基座,所述檢測基座上安裝有與承托架連接的機架,內(nèi)側(cè)安裝有X射線管的承托板的正下方安裝有檢測置放槽,檢測置放槽的正下方安裝有X射線成像機構(gòu),X射線成像機構(gòu)的放大器的輸出端與數(shù)模轉(zhuǎn)化器的輸入端連接,數(shù)模轉(zhuǎn)化器的輸出端與圖像處理計算機的輸入端連接,圖像處理計算機的第二輸出端口與模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端連接,數(shù)模轉(zhuǎn)換器的輸出端與取放機構(gòu)的執(zhí)行控制器的輸入端連接,取放機構(gòu)的左側(cè)方和右側(cè)方分別安裝有第一存儲槽和第二存儲槽。本發(fā)明解決了現(xiàn)有的用于檢測鑄鐵件內(nèi)部缺陷的檢測設(shè)備,不能夠?qū)崿F(xiàn)高效無損檢測的問題。
聲明:
“用于無損檢測鑄鐵件內(nèi)部缺陷的檢測設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)