本發(fā)明公開一種基于超聲無損檢測的缺陷定位定量檢測方法，包括以下步驟：在待測試塊進(jìn)行直線B掃，獲取包括n個(gè)A掃信號的B掃信號；將無缺陷參考信號和B掃信號歸一化處理，獲得缺陷回波信號；從缺陷回波信號中分別提取每個(gè)A掃信號中的缺陷縱波回波時(shí)刻；以第一個(gè)掃查位置為原點(diǎn)，掃查方向?yàn)閤正向，待測試塊內(nèi)部垂直于待測試塊表面方向?yàn)閥正向，建立坐標(biāo)系；根據(jù)掃查點(diǎn)坐標(biāo)、缺陷縱波回波時(shí)刻以及縱波波速，得到缺陷位置與尺寸。本發(fā)明的結(jié)果可以直接輸出缺陷的位置和尺寸，在坐標(biāo)系中繪制出缺陷形貌，輸出結(jié)果直觀。本發(fā)明在直線B掃的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)之上，即可獲取缺陷尺寸，相較通過C掃檢測缺陷的方式，檢測效率有明顯的提升。