本發(fā)明公開了一種測(cè)量繼電器成品觸點(diǎn)間距的X射線無(wú)損檢測(cè)方法，充分利用射線的穿透能力，針對(duì)外殼已封裝的繼電器，利用穿過(guò)繼電器的射線由于強(qiáng)度不同在傳感器上的感光程度也不同，由此產(chǎn)生內(nèi)部不連續(xù)的圖像的原理。方法首先建立的未封裝前各類繼電器型號(hào)對(duì)應(yīng)的匹配圖數(shù)據(jù)庫(kù)，然后將待檢測(cè)的已封裝的繼電器成品通過(guò)X射線檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)字化圖像采集并確定相似性測(cè)度和確定窗口大小以及窗口移動(dòng)策略，進(jìn)而計(jì)算繼電器觸點(diǎn)部分圖像與數(shù)據(jù)庫(kù)理想觸點(diǎn)圖像的互信息，最終準(zhǔn)確測(cè)量出繼電器觸點(diǎn)間距。該檢測(cè)方法具有實(shí)時(shí)性高，無(wú)需X光片等耗材，操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。