本發(fā)明公開了光學(xué)元件強(qiáng)激光損傷特性的無損檢測(cè)與評(píng)價(jià)方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)不能通過無損檢測(cè)評(píng)價(jià)光學(xué)元件激光損傷特性的難題。本發(fā)明包括：通過實(shí)驗(yàn)獲得光學(xué)元件的無損檢測(cè)數(shù)據(jù)以及強(qiáng)激光作用下發(fā)生損傷的激光參數(shù)；將無損檢測(cè)數(shù)據(jù)與損傷測(cè)試結(jié)果作為特征量，使用深度學(xué)習(xí)方法，根據(jù)無損檢測(cè)數(shù)據(jù)、激光參數(shù)及損傷測(cè)試結(jié)果，獲得光學(xué)元件激光損傷特性的檢測(cè)評(píng)價(jià)模型；將待檢測(cè)的光學(xué)元件進(jìn)行無損檢測(cè)，將獲得的無損檢測(cè)數(shù)據(jù)和激光參數(shù)作為檢測(cè)評(píng)價(jià)模型的輸入量，從而獲得該光學(xué)元件的激光損傷特性檢測(cè)結(jié)果，實(shí)現(xiàn)強(qiáng)激光損傷特性的無損檢測(cè)與評(píng)價(jià)。