本發(fā)明公開了一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭，包括光源探針、檢測探針、固定裝置，其中光源探針、檢測探針平行設置在固定裝置上，光源探針上設置的出射窗正對著檢測探針上設置的入射窗；光源探針內(nèi)安裝有出射光線發(fā)出裝置，檢測探針內(nèi)安裝有檢測裝置，出射光線發(fā)出裝置將出射光傳導至出射窗進入到固體顆粒物，出射光經(jīng)過固體顆粒物形成的透射光經(jīng)入射窗進入即得到入射光線，入射光線被檢測裝置接收，檢測裝置將接收到入射光線的光信號轉(zhuǎn)換為電信號傳輸出去。本發(fā)明對比現(xiàn)有的透射、漫反射檢測方式，這種透射式探頭省去了樣品池，不需要取樣、裝樣等操作過程，使用更加方便，檢測效率更高。