本發(fā)明公開了一種無損檢測下的芯片質(zhì)量的評估系統(tǒng)及方法，所述評估系統(tǒng)包括參照信息采集模塊、評估信息獲取模塊和分析評估模塊，所述參照信息采集模塊預(yù)先采集合格芯片的圖像信息作為參照信息，所述參照信息包括字符信息、表面信息和管腳信息，所述評估信息獲取模塊獲取待檢測芯片的圖像為評估圖像，對評估圖像進(jìn)行預(yù)處理得到待評估信息，所述待評估信息包括待評估字符、待評估表面和待評估管腳，所述分析評估模塊對參照信息和待評估信息分析，評估待檢測芯片質(zhì)量是否合格，在評估待檢測芯片存在不合格時，輸出待檢測芯片的不合格內(nèi)容。