本發(fā)明的目的在于提供一種紅外無損檢測的缺陷幾何特征提取方法,屬于紅外無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法考慮了熱擴散對圖像分割造成的影響,基于雙閾值將待檢測的紅外圖像分割成黑、灰、白三種情況,分別對應(yīng)無缺陷、熱擴散影響和有缺陷三部分,然后再利用形態(tài)學(xué)邊緣檢測獲取缺陷幾何特征,實現(xiàn)在考慮熱擴散影響下的缺陷幾何特征的準確提取,具有準確率高的優(yōu)勢。
聲明:
“紅外無損檢測的缺陷幾何特征提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)