本發(fā)明提供一種基于勞厄衍射原理對全尺寸異型單晶無損檢測的信息獲取設(shè)備，所述信息獲取設(shè)備，包括：X射線發(fā)生器(1)、探測器(2)、樣品臺(3)及變焦鏡頭(4)；所述樣品臺(3)用于夾持待測樣品；所述X射線發(fā)生器(1)的第一滑軌基座(1?2)與水平方向夾角為45度，所述待測樣品的微區(qū)法線與所述X射線發(fā)生器(1)產(chǎn)生的X射線光束的入射方向呈45度；所述探測器(2)與水平方向夾角為135度，用于接收與實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系Z軸夾角135度出射的X射線衍射光束；所述變焦鏡頭(4)垂直對準(zhǔn)光斑，用于測距定位。根據(jù)本發(fā)明的方案，可以精確無損得到全尺寸異型單晶的取向、三維應(yīng)變張量等數(shù)據(jù)，能夠分析計(jì)算滑移方向與位錯(cuò)密度。