基于深度學(xué)習(xí)的紅外無損檢測方法包括設(shè)計(jì)和制作樣本,設(shè)計(jì)樣本上的缺陷位置并獲得設(shè)計(jì)圖;用紅外相機(jī)記錄圖像序列;對每一個(gè)圖像序列中的每一個(gè)像素點(diǎn)在時(shí)間序列中進(jìn)行預(yù)處理;利用建立深度學(xué)習(xí)模型,在時(shí)間序列中提取相位特征;將每個(gè)點(diǎn)的相位特征在其所在圖像中顯示出來。本發(fā)明具有能夠自主提取特征、區(qū)分缺陷區(qū)域,并且能夠?qū)D像中的噪聲有一定抑制作用的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“基于深度學(xué)習(xí)的紅外無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)