本發(fā)明公開了一種封閉殼體內(nèi)金屬成份及位置的無損測定方法,采用不同脈沖寬度的電磁脈沖串激勵及寬頻高靈敏度接收傳感器,對被檢封閉殼體部件外部進行周向及徑向掃描,獲取主動激勵/接收的電磁信息,重建被檢封閉部件外部的電磁場分布,與標(biāo)準(zhǔn)部件外部測得的電磁場分布進行比較,從而得到被檢封閉殼體部件內(nèi)金屬成份及位置的變化情況,實現(xiàn)封閉殼體內(nèi)金屬成份及位置的精確測量、快速定位。
聲明:
“封閉殼體內(nèi)金屬成份及位置的無損測定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)