本發(fā)明一種無損測量納米光纖直徑的裝置及方法，屬于納米光纖直徑無損測量技術領域；所要解決的技術問題是提供了一種成本低廉、無損測量納米光纖直徑的裝置和方法；解決該技術問題采用的技術方案為：一種無損測量納米光纖直徑的裝置，包括測試激光器、光纖探針和光電探測器，測試激光器輸出的激光依次經過第一普通光纖、第一錐形光纖、納米光纖、第二錐形光纖和第二普通光纖后進入光電探測器，第一普通光纖、第一錐形光纖、納米光纖、第二錐形光纖和第二普通光纖為一體成型；光纖探針用于對納米光纖進行接觸或分離，使光電探測器測得光纖探針接觸納米光纖不同位置下的測試激光的光強；本發(fā)明可廣泛應用于納米光纖直徑測量領域。