本發(fā)明公開了一種多缺陷材料M積分的無損測(cè)量方法，通過數(shù)字散斑相關(guān)技術(shù)，利用光學(xué)測(cè)量設(shè)備ARAMIS？4M(GOM？mbh)測(cè)得試件表面的位移場(chǎng)；通過均值濾波器對(duì)位移場(chǎng)進(jìn)行平滑處理，并利用三次樣條擬合求得位移場(chǎng)沿兩個(gè)坐標(biāo)軸的梯度；通過材料本構(gòu)方程，計(jì)算材料表面應(yīng)力場(chǎng)及應(yīng)變能密度分布；代入M積分的定義表達(dá)式，選取包含缺陷的任意閉合路徑，通過數(shù)值積分計(jì)算M積分值。該方法適用于各種不同的缺陷及缺陷群，可用于評(píng)估航天、航空、機(jī)械等領(lǐng)域各種形式的材料損傷與結(jié)構(gòu)完整性。