本發(fā)明公開了一種基于高光譜透射技術(shù)譜峰面積的臍橙糖度檢測(cè)快速建模法,涉及水果內(nèi)部品質(zhì)無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。方法是:①獲取臍橙樣品半透射高光譜圖譜;②利用化學(xué)方法測(cè)定臍橙樣品的糖度值;③選取臍橙樣品平均高光譜圖譜;④計(jì)算高光譜圖譜譜峰面積;⑤建立臍橙樣品糖度預(yù)測(cè)模型,進(jìn)行品質(zhì)檢測(cè)。本發(fā)明基于高光譜技術(shù)通過半透射方式采集臍橙樣品高光譜圖譜可以有效獲取臍橙內(nèi)部品質(zhì)信息,提高水果內(nèi)部品質(zhì)的檢測(cè)水平和檢測(cè)效率;該建模法建模效率高、準(zhǔn)確率高,模型運(yùn)算速度快,可以快速檢測(cè)水果的糖度內(nèi)部品質(zhì)指標(biāo),對(duì)水果的內(nèi)部品質(zhì)進(jìn)行評(píng)價(jià)。
聲明:
“基于高光譜透射技術(shù)譜峰面積的臍橙糖度檢測(cè)快速建模法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)