本發(fā)明屬于電磁無損檢測技術領域，涉及雙頻陣列渦流探頭及深裂紋混頻檢測信號提取技術。本發(fā)明探頭包括激勵元件、檢測元件和矩形安裝槽(8)；所述矩形安裝槽(8)上設置有安裝槽頂蓋(9)；所述激勵元件包括大激勵線圈(1)、小激勵線圈(2)和內(nèi)固定骨架(3)；所述小激勵線圈(2)繞在內(nèi)固定骨架(3)上，大激勵線圈(1)繞在小激勵線圈(2)上；所述檢測元件包括檢測線圈(4)、屏蔽罩外筒(5)、屏蔽罩頂蓋(6)和繞線柱(7)；所述繞線柱(7)安裝在矩形安裝槽(8)槽底上，所述檢測線圈(4)套在繞線柱(7)上，并位于磁場屏蔽罩外筒(5)和屏蔽罩頂蓋(6)構成的屏蔽外殼內(nèi)。本發(fā)明探頭探測深度大，檢測效率高。