本發(fā)明公開(kāi)了一種基于高光譜的潛在指紋檢測(cè)方法。具體涉及刑偵指紋痕跡檢測(cè)領(lǐng)域。具體方法如下：在標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)工作環(huán)境下，使用便攜式高光譜檢測(cè)儀對(duì)潛在指紋進(jìn)行拍攝，將所獲數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)預(yù)處理和PCA降維處理后，對(duì)指紋進(jìn)行形態(tài)學(xué)和組成成分分析，并結(jié)合大數(shù)據(jù)庫(kù)獲得最終的檢測(cè)分析結(jié)果，將比對(duì)檢索出的對(duì)象信息和痕量化學(xué)組分的初步分析結(jié)果進(jìn)行展示。本發(fā)明提供的潛在指紋檢測(cè)方法，能夠在現(xiàn)場(chǎng)指紋樣本無(wú)損的情況下獲得指紋的比對(duì)結(jié)果，檢測(cè)結(jié)果快速可靠，提高了刑偵工作者的效率。