本發(fā)明涉及一種融合散斑干涉和剪切散斑干涉的缺陷深度檢測(cè)方法,將散斑干涉與剪切散斑干涉相融合,全面定量表征結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷,消除了剪切散斑干涉檢測(cè)缺陷深度的多類型誤差來(lái)源,如消除了剪切量對(duì)缺陷尺寸檢測(cè)不確定因素的影響,不需要考慮缺陷區(qū)域的邊界條件,避免了不確定邊界條件帶來(lái)的誤差,大幅度提高了缺陷深度的檢測(cè)精度,更加符合實(shí)際定量無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用的需求。
聲明:
“融合散斑干涉和剪切散斑干涉的缺陷深度檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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