本發(fā)明公開了一種電子紙模組，包括TFT模組，所述TFT模組的中部設(shè)有顯示區(qū)域，所述TFT模組上設(shè)有一圈金屬環(huán)繞線，所述金屬環(huán)繞線靠近TFT模組的邊緣布線，且所述金屬環(huán)繞線的兩端接近但保持間距。通過修改TFT模組的結(jié)構(gòu)設(shè)計，在TFT模組的崩邊規(guī)格參數(shù)范圍內(nèi)，于TFT的邊緣靠內(nèi)走一圈金屬環(huán)繞線。后續(xù)在大板上將一個個設(shè)有金屬環(huán)繞線的小片TFT切割下來后，將各TFT模組的金屬環(huán)繞線與測試電路連接，如果測得電路可以導(dǎo)通說明金屬環(huán)繞線無損傷，也即證明該片TFT模組沒有崩邊或暗裂質(zhì)量問題，反之則證明檢測產(chǎn)品不合格。