本發(fā)明涉及一種葉面積指數(shù)檢測(cè)方法,其特征在于,步驟為:1)、選取n個(gè)天頂角,分別在植株上、下處對(duì)n個(gè)天頂角的光線強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量;2)、根據(jù)透射率計(jì)算平均接觸頻率;3)、計(jì)算葉面積指數(shù)。該方法可以從光能量變化,通過(guò)分析統(tǒng)計(jì)得出此區(qū)域的農(nóng)作物的葉面積指數(shù)及相關(guān)參數(shù),具有精確、快速、無(wú)損傷地測(cè)量的特點(diǎn);相比直接測(cè)量法具有更快、更大范圍和自動(dòng)化的獲取葉面積指數(shù),大大降低了工作量。
聲明:
“葉面積指數(shù)檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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