本發(fā)明屬于利用光電子方法測量光纖性能的技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是利用高雙折射光纖的法拉第效應(yīng)實現(xiàn)對高雙折射光纖拍長測量的一種新方案,其主要優(yōu)點是可不需破壞高雙折射光纖的保護層進行無損檢測、分辨率高、測量速度快,測量結(jié)果不受光纖擺放狀態(tài)影響,并適于低耗高雙折射光纖測量,可測出拍長沿光纖長度的分布。