本發(fā)明公開一種針對高深寬比曲面構(gòu)件面形測量的測量系統(tǒng)，其包括雙探頭測量機構(gòu)、探頭驅(qū)動機構(gòu)、構(gòu)件移動機構(gòu)，雙探頭測量機構(gòu)包括激光干涉光針及掃描觸針，兩者探頭間隔設(shè)置，并依次對曲面構(gòu)件進行掃描；探頭驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動雙探頭測量機構(gòu)對曲面構(gòu)件進行隨形掃描；構(gòu)件移動機構(gòu)帶動曲面構(gòu)件作回轉(zhuǎn)運動。本發(fā)明還公開了基于上述測量系統(tǒng)的測量方法，其綜合激光干涉光針在曲面輪廓、無損檢測方面的優(yōu)勢以及高長徑比掃描觸針對大曲率、小間隙結(jié)構(gòu)的檢測優(yōu)勢，并優(yōu)化其測量方法，實現(xiàn)了復(fù)雜高深寬比曲面構(gòu)件跨尺度特征的全表面檢測。