本發(fā)明公開了一種透視測量樹脂基復(fù)合材料構(gòu)件內(nèi)部離面位移場分布的裝置及方法。該裝置是設(shè)計邁克爾遜多表面干涉的光學(xué)系統(tǒng)，在參考臂端引入一個雙表面光楔，形成光楔和被測樹脂基復(fù)合材料內(nèi)部反射信號之間的干涉圖像。光楔有兩個作用，首先用于監(jiān)測激光波數(shù)k，其次提供干涉的參考平面。通過溫度掃描，半導(dǎo)體激光控制器輸出激光的波數(shù)也進行掃描，與此同時，CCD相機拍攝多幀干涉圖像。分別對加載前后干涉圖像序列進行傅里葉變換，干涉峰值對應(yīng)的相位差可以解調(diào)出被測樹脂基復(fù)合材料構(gòu)件內(nèi)部離面位移場分布。該裝置及方法的優(yōu)點是可以進行透視測量，且離面位移場測量精度高，為樹脂基復(fù)合材料內(nèi)部力學(xué)性能測量和無損檢測提供了一種新的技術(shù)平臺。