本發(fā)明公開了一種基于剪切散斑干涉的光學(xué)離面位移場測量裝置，包括設(shè)有鏡頭、光圈調(diào)節(jié)裝置和聚焦調(diào)節(jié)裝置的攝像機、第一半透半反鏡、第二半透半反鏡、第三半透半反鏡、第一反射鏡、第二反射鏡、第三反射鏡、壓電陶瓷器、電壓控制器和計算機。同時，本發(fā)明還公開了一種基于剪切散斑干涉的光學(xué)離面位移場測量裝置的測量方法，包括以下步驟：步驟1.調(diào)試測試裝置；步驟2.在被測樣品發(fā)生變形前，采集相移圖；步驟3.在被測樣品發(fā)生變形后，采集相移圖；步驟4.測量離面位移梯度場；步驟5.測量出離面位移場。使用該測量裝置進行光學(xué)離面位移場測量，可以使被測樣品表面無損、全場測量、分辨率高、測量結(jié)果穩(wěn)定，且便于現(xiàn)場測量。