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基于高光譜圖像對腐敗真菌生長預測的方法

1209   編輯:管理員   來源:中冶有色網(wǎng)  
2023-03-19 08:58:27
本發(fā)明是一種基于高光譜建立水果中腐敗真菌生長曲線的方法,屬于食品質(zhì)量安全快速檢測和監(jiān)測的無損技術。通過高光譜成像儀,分別獲取真菌不同生長階段的高光譜圖像,分析不同類型不同階段真菌圖像及光譜之間的差別,提取相應的圖像和光譜特征參數(shù),分別構(gòu)建了三種真菌的生長模型,與傳統(tǒng)的微生物生長檢測手段得到的生真菌長情況相比較,相關系數(shù)在0.88-0.96。本發(fā)明為微生物及在食品中的生長檢測提供了新思路和新技術,能夠更方便快捷的建立真菌生長曲線,并能用于水果腐敗真菌病害的檢測、監(jiān)測和控制。
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“基于高光譜圖像對腐敗真菌生長預測的方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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