本發(fā)明公開了一種弱磁場梯度測量的裝置及方法,所述的裝置包括探頭、選頻放大電路、含A/D和D/A的單片機(jī)系統(tǒng)、升壓驅(qū)動(dòng)電路、顯示單元,所述探頭包括傳感器、振動(dòng)部件和外殼,振動(dòng)部件為懸臂梁結(jié)構(gòu)的壓電雙晶片,傳感器安裝在振動(dòng)部件的自由端;所述的方法包括采用自相關(guān)檢測技術(shù),通過傳感器的振動(dòng)將靜態(tài)的磁場分布調(diào)制成恒定頻率的微弱交流信號(hào)輸出,由選頻放大電路對(duì)該微弱信號(hào)進(jìn)行放大,由單片機(jī)系統(tǒng)A/D轉(zhuǎn)換并作自相關(guān)運(yùn)算處理,算出信號(hào)的峰峰值電壓,該電壓正比于被測量的磁場梯度值。本發(fā)明測量靈敏度高、成本低;不受工作環(huán)境條件限制;本發(fā)明尤其應(yīng)用于金屬磁記憶無損檢測時(shí),沒有微分噪聲,對(duì)缺陷和應(yīng)力集中檢測準(zhǔn)確性高。
聲明:
“弱磁場梯度測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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