本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域，具體涉及一種用于相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價方法。采用相控陣超聲儀器激發(fā)相控陣探頭晶片中每個晶片產(chǎn)生超聲波入射到相控陣探頭楔塊底面產(chǎn)生的回波信號，通過回波信號的幅度判定晶片的有效性。本發(fā)明方法操作簡單、實用，便于攜帶，無輻射，無污染，在檢測過程中能及時測試晶片的好壞，能保證檢測靈敏度和檢測結(jié)果的準確性，也能提高檢測效率。適宜作為相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價方法的應(yīng)用。